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DHC-II 低溫比熱容測(cè)試儀
低溫比熱容測(cè)試儀是基于絕熱法測(cè)試,運(yùn)用現(xiàn)代計(jì)算機(jī)測(cè)試技術(shù)實(shí)現(xiàn)不同溫度下固體材料的比熱容自動(dòng)測(cè)試。符合GJB330A-2000固體材料比熱容測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)要求。
1、比熱容范圍 0.05-5 (kj/kg*k)
2、測(cè)試精確度 顆粒、粉體≤1%±0.002
3、測(cè)試溫度范圍 -40-100℃
4、試樣要求 顆粒、粉體樣品量:約55(cm3)
5、量熱分辨率 0.001℃
6、量熱器 量熱電源:電壓0-24V,分辨率1mV;電流0-1A,分辨率0.01mA。
7、氣氛環(huán)境 真空度:-0.095MPa
8、實(shí)驗(yàn)方法 絕熱法
主要配置:
1、比熱容測(cè)試主機(jī) 一臺(tái) 2、低溫恒溫水槽 一臺(tái) 3、試樣盒 一套
4、測(cè)試軟件 一套 5、臺(tái)式電腦 一臺(tái)